Comparação entre métodos de medição da camada semiredutora em radiologia: direto por sensor de estado sólido e pelo uso de placas de alumínio com 99% de pureza

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2020

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http://sr-vmlxaph03:8080/jspui/handle/123456789/2416

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Pôsteres publicados pela Área de Edição e Produção de Materiais Técnico-científicos

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