Comparação entre métodos de medição da camada semiredutora em radiologia: direto por sensor de estado sólido e pelo uso de placas de alumínio com 99% de pureza

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dc.contributor.authorFaria, Denyel Jefferson Prado de
dc.contributor.authorSimões, Rafael Figueiredo Pohlmann
dc.contributor.authorAugusto, Fernando Mecca
dc.contributor.authorSantos, Diego Mendes dos
dc.date.accessioned2021-06-24T18:36:32Z
dc.date.available2021-06-24T18:36:32Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.urihttp://sr-vmlxaph03:8080/jspui/handle/123456789/2416
dc.publisherINCApt_BR
dc.titleComparação entre métodos de medição da camada semiredutora em radiologia: direto por sensor de estado sólido e pelo uso de placas de alumínio com 99% de purezapt_BR

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