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https://ninho.inca.gov.br/jspui/handle/123456789/2416| Title: | Comparação entre métodos de medição da camada semiredutora em radiologia: direto por sensor de estado sólido e pelo uso de placas de alumínio com 99% de pureza |
| Authors: | Faria, Denyel Jefferson Prado de Simões, Rafael Figueiredo Pohlmann Augusto, Fernando Mecca Santos, Diego Mendes dos |
| Issue Date: | 2020 |
| Publisher: | INCA |
| URI: | http://sr-vmlxaph03:8080/jspui/handle/123456789/2416 |
| Appears in Collections: | Pôsteres publicados pela Área de Edição e Produção de Materiais Técnico-científicos |
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